皮膜厚さ試験 渦電流式測定法
 使用装置  高周波膜厚計 LH-200 (株)ケツト科学研究所製

 装置写真
試験機
 試験規格  JIS H 8680-2
 主な試験条件  膜厚計校正用素材:試料と材質・形状が同じ素材
 測定回数:各測定部につき5回以上
 試験片  規定はありませんが、端や角部から15 mm以上離れた場所で測定するため、
 30mm角以上であることが望ましいです。
 特徴  試験の模式図

 


試料に渦電流が発生し、プローブに流れる電流が変化します。この変化量が試料とプローブの距離により異なることを利用して皮膜厚さを測定します。
 
 非破壊で測定ができます。
 ご依頼の際には、膜厚計校正用の素材のご提供をお願いします。
 試料の一部を切断し、皮膜を溶解することにより素地を調製することも可能です。
 (別途料金)
一般社団法人 軽金属製品協会 試験研究センター