絶縁破壊試験
　使用装置 　耐電圧試験器 TOS-5052S　菊水電子工業（株）製

　装置写真		 試験機
　試験規格 　JIS H 8687
　主な試験条件 　昇電圧速度：25 V/s
　回路遮断電流：5 mA
　2極間の距離（皮膜－皮膜間測定の場合）：25 mm
　電極の押付け力：1.0 N ± 0.1 N
　試験片 　寸法 約100 mm × 約100 mm（他の寸法でも試験可能です。）
　特徴 　試験の様子

　一定速度で昇圧する交流電圧を印加し、皮膜が絶縁破壊する時点の
　電圧を測定します。
　異なる箇所で5回以上の試験を行い、最低電圧及び平均電圧を求めます。
　試験には、皮膜－皮膜間測定と皮膜－素地間測定があります。
　皮膜－皮膜間測定の場合には、両方の電極を皮膜上に設置し、
　皮膜－素地間測定の場合には、片方の電極を素地に接続します。
　ご依頼の際には、測定方法をご指示ください。
一般社団法人 軽金属製品協会　試験研究センター